LCPLN100XIR红外物镜奥林巴斯销售用于半导体

LCPLN100XIR 红外长工作距离物镜

产品概述：
LCPLN100XIR 是一款专为红外光谱分析及相关精密检测应用设计的高性能长工作距离物镜。在半导体制造、封装测试以及材料科学领域，对非可见光波段的精确观测需求日益增长。该款物镜针对红外波段进行了专门的光学优化，旨在提供清晰、高对比度的图像质量，以满足复杂工艺环境下的检测标准。其独特的光学结构设计，使得用户在进行样品观察时能够获得更大的操作空间，便于配合其他自动化设备进行集成操作。

核心光学特性

• 红外波段优化： 采用特殊光学玻璃及镀膜技术，显著减少在红外区域的球差和色差，确保在该波段下的成像锐度与色彩还原度符合专业检测要求。
• 长工作距离设计： 相较于常规高倍物镜，该型号提供了更为充裕的工作距离。这一设计不仅降低了物镜镜头与样品发生物理接触的风险，还方便了在狭小空间或复杂夹具环境下的灵活安装与调试。
• 高数值孔径： 在长工作距离的前提下，依然保持了较高的数值孔径，确保了良好的光线收集能力和空间分辨率，有助于捕捉微小的结构细节。
• 平场校正： 具备优异的场曲校正能力，视场边缘至中心的成像质量均匀一致，避免了因畸变导致的测量误差。

在半导体行业的应用场景

技术规格概要

注：具体光学参数可能因批次或定制需求略有差异，建议在采购前参考详细技术文档或与专业技术支持团队沟通，以确保选型符合实际应用场景需求。本产品旨在提升检测效率与精度，实际效果取决于整体系统的配置及操作规范。